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高速電池內(nèi)阻測(cè)試儀3563/-A/-B：內(nèi)阻分辨率0.0001mΩ，精度 0.3% 電壓量程Z高800V，分辨率0.00001V 精度 0.01% 支持多路測(cè)試[選配多路掃描盒] 測(cè)試速度Z快70次/秒配套自動(dòng)分選機(jī)高速分選 標(biāo)配RS232接口、handler接口 高精度鋰電池內(nèi)阻、電壓檢測(cè) 配套自動(dòng)分選機(jī)進(jìn)行電池內(nèi)阻+電壓自動(dòng)測(cè)試 電池的劣化狀態(tài)和壽命評(píng)估評(píng)估 超級(jí)電容（低內(nèi)阻電容）的ESR測(cè)試

熱敏電阻測(cè)試儀SMR3544：基本精度0.02%，Z小分辨率0.1μΩ，測(cè)試電流1A，可測(cè)范圍0.000mμΩ~3.5MΩ。通過保護(hù)端口使用的探頭提高測(cè)試電流，實(shí)現(xiàn)抗干擾測(cè)量。使用比較判斷燈（選件）和大音量的判斷音，可在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)準(zhǔn)確判斷合格與否。 帶適合NPN/PNP的EXT I/O接口，可用于各種自動(dòng)產(chǎn)線中熱敏電阻測(cè)試功能【選配熱敏電阻測(cè)試卡】

多路電阻測(cè)試儀3541X是全新設(shè)計(jì)的高精度寬量程、多路阻抗測(cè)試儀，采用結(jié)構(gòu)緊湊的插卡式設(shè)計(jì)，插卡可分為采集卡、報(bào)警卡、可任意配置。每張測(cè)試卡可對(duì)8路阻抗進(jìn)行掃描測(cè)試。采用高性能ARM微處理器控制。真彩4.3寸液晶可同時(shí)顯示48路阻抗值，并且每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置比較器，SMR3541X可以測(cè)試10μΩ～300KΩ的阻抗，顯示30,000數(shù)。

絕緣電阻測(cè)試儀3530：4.3 寸 TFT 真彩液晶顯示同時(shí)顯示電壓、電阻、漏電流寬量程高精度測(cè)試絕緣電阻測(cè)試范圍Z高可達(dá)1Ω-10000TΩ（10~1016Ω） Z高精度 0.3% 表面電阻、體積電阻[僅CHT3530] ＜1G：± 1% ≥1G： 3% ≥10G ：5% ≥1T：10% ≥100T： 20% 測(cè)試電壓 0.001V~1000V, 連續(xù)可調(diào),電壓精度 0.05%

絕緣電阻測(cè)試儀3530/-14.3 寸 TFT 真彩液晶顯示 同時(shí)顯示電壓、電阻、漏電流 寬量程高精度測(cè)試 絕緣電阻測(cè)試范圍Z高可1Ω-10000TΩ（10~1016Ω） Z高精度 0.3% 表面電阻、體積電阻[僅CHT3530] ＜1G：± 1% ≥1G： 3% ≥10G ：5% ≥1T：

多路直流電阻儀3541是全新設(shè)計(jì)的高精度寬量程、多路阻抗測(cè)試儀，采用結(jié)構(gòu)緊湊的插卡式設(shè)計(jì)，插卡可分為采集卡、報(bào)警卡、可任意配置。每張測(cè)試卡可對(duì)8路阻抗進(jìn)行掃描測(cè)試。采用高性能ARM微處理器控制。真彩4.3寸液晶可同時(shí)顯示48路阻抗值，并且每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置比較器，SMR3541X可以測(cè)試10μΩ～300KΩ的阻抗，顯示30,000數(shù)。